Measurement of the D*(2010) branching fractions

F. Butler, X. Fu, G. Kalbfleisch, M. Lambrecht, W. R. Ross, P. Skubic, J. Snow, P. L. Wang, D. Bortoletto, D. N. Brown, J. Dominick, R. L. Mcilwain, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, S. F. Schaffner, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, M. Battle, J. ErnstH. Kroha, S. Roberts, K. Sparks, E. H. Thorndike, C. H. Wang, S. Sanghera, T. Skwarnicki, R. Stroynowski, M. Artuso, M. Goldberg, N. Horwitz, R. Kennett, G. C. Moneti, F. Muheim, S. Playfer, Y. Rozen, P. Rubin, S. Stone, M. Thulasidas, W. M. Yao, G. Zhu, A. V. Barnes, J. Bartelt, S. E. Csorna, Z. Egyed, V. Jain, P. Sheldon, D. S. Akerib, B. Barish, M. Chadha, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, J. Urheim, A. J. Weinstein, A. Bean, J. Gronberg, R. Kutschke, A. J. Weinstein, S. Menary, R. J. Morrison, H. N. Nelson, J. D. Richman, H. Tajima, D. Schmidt, D. Sperka, M. S. Witherell, D. Acosta, G. Masek, B. Ong, H. Paar, M. Sivertz, M. Procario, M. Daoudi, W. T. Ford, D. R. Johnson, K. Lingel, M. Lohner, P. Rankin, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, K. Berkelman, D. Besson, T. E. Browder, D. G. Cassel, D. M. Coffman, P. S. Drell, R. Ehrlich, R. S. Galik, M. Garcia-Sciveres, B. Geiser, B. Gittleman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, K. Honscheid, C. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, C. O'Grady, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, M. Sapper, M. Selen, H. Worden, M. Worris, F. Würthwein, P. Avery, A. Freyberger, J. Rodriguez, R. Stephens, J. Yelton, D. Cinabro, S. Henderson, K. Kinoshita, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, A. J. Sadoff, R. Ammar, S. Ball, P. Baringer, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, M. Kelly, N. Kwak, H. Lam, Y. Kubota, M. Lattery, J. K. Nelson, S. Patton, D. Perticone, R. Poling, V. Savinov, S. Schrenk, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, J. J. O'Neill, B. Nemati, V. Romero, H. Severini, C. R. Sun, P. N. Wang, M. M. Zoeller, G. Crawford, R. Fulton, K. K. Gan, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, R. Malchow, F. Morrow, M. Sung, C. White, J. Whitmore, P. WilsonShow 150 othersShow less