Measured properties of an out-of-plane spectrometer

J. B. Mandeville, L. S. Cardman, S. M. Dolfini, W. Kim, R. M. Laszewski, C. N. Papanicolas, S. E. Williamson, Ricardo Alarcon, J. Görgen, D. Martinez, K. Dow, M. M. Farkhondeh, D. Tieger, J. Zumbro, M. Epstein, D. Margaziotis, A. Bernstein, W. Bertozzi, V. Bhushan, S. GiladM. Holtrop, D. Jordan, T. McIlvain, L. Weinstein, R. Beck, W. Boeglin, E. A J M Offermann